CWDM無源模塊測試解決方案簡介

CWDM系統(tǒng)的價(jià)格較DWDM系統(tǒng)相對(duì)較低得多，由于CWDM的功率小、體積小、使用簡便，因此配套設(shè)施、人員培訓(xùn)和后期的維護(hù)費(fèi)用較低。與光纜工程比較:利用CWDM設(shè)備則開通迅速，成本低，后期網(wǎng)絡(luò)升級(jí)方便，直接增加需要的信號(hào)，或者是更換更高速率的產(chǎn)品，不需要在更改光纖鏈路，網(wǎng)絡(luò)升級(jí)簡便，減少了網(wǎng)絡(luò)升級(jí)成本。目前DWDM技術(shù)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于長距離高速光通信系統(tǒng)中如國家主干網(wǎng)、海底光纜通信系統(tǒng)上，但DWDM由于技術(shù)較復(fù)雜、成本高，不適合應(yīng)用于城域網(wǎng)和接入網(wǎng)中。和DWDM系統(tǒng)不同，CWDM系統(tǒng)采用的是不帶冷卻器的分布式反饋（DFB）激光器和寬帶光濾波器，因此CWDM系統(tǒng)具有以下優(yōu)點(diǎn)：功率損耗低、尺寸小和成本低。CWDM系統(tǒng)的投放市場使得它在城域網(wǎng)和接入網(wǎng)中能夠替代DWDM系統(tǒng)。目前，大多數(shù)CWDM系統(tǒng)工作在從1470nm到1610nm的范圍內(nèi)，其信道間距為20nm。目前制作CWDM的技術(shù)有薄膜濾光片（ThinFilmFilter,TFF）和全光纖耦合器（AllFiberCoupler）等方式。不管哪一種CWDM器件的制作方式都存在同樣一個(gè)非常重要的問題：技術(shù)指標(biāo)的測試，這些指標(biāo)包括插入損耗，通道帶寬，隔離度，通帶平坦度等重要指標(biāo)。由于CWDM覆蓋的波長范圍非常寬（>140nm）,因此測試相對(duì)也較復(fù)雜，測試方法有以下幾種：

1以白光源作為測試光源

優(yōu)點(diǎn)：白光源的波長覆蓋范圍很寬。

缺點(diǎn)：白光源的功率密度很小，<-55dBm/nm,因此隔離度指標(biāo)測試只能到20dB左右，難以能滿足要求。

2以1550nmLED光源作為測試光源

優(yōu)點(diǎn)：LED光源的波長覆蓋范圍較寬，價(jià)格較便宜。

缺點(diǎn)：LED光源的功率密度較小，在-40~-50dBm/nm范圍內(nèi),因此隔離度指標(biāo)測試只能到20~30dB左右，當(dāng)然如果光譜儀用高靈敏度的掃描方式也可達(dá)到30~40dB,但又存在測試效率很低的問題（掃描一個(gè)通道大約要5分鐘）。

3以可調(diào)諧激光器作為測試光源

優(yōu)點(diǎn)：還可測試pDL，回波損耗等指標(biāo)。

缺點(diǎn)：一般單臺(tái)可調(diào)諧激光器的波長覆蓋不了CWDM的要求范圍，所以需要2臺(tái)；另外必須選較高檔的可調(diào)諧激光器，否則一般的可調(diào)諧激光器由于ASE的影響隔離度指標(biāo)也只能測到30dB左右。還有測試速度、慢效率低，成本高，測試曲線易受pDL的影響。

4以S+C+L寬帶光源（SLD）作為測試光源

優(yōu)點(diǎn)：測試效率高，結(jié)果直觀（建議首選）。

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5以ASE-C+L寬帶光源作為測試光源，再用光譜儀掃描

優(yōu)點(diǎn)：測試效率高，結(jié)果直觀，成本適中，是一種最常用的測試方案。ASE-C+L寬帶光源大約覆蓋了1520~1620nm的波長范圍，在這個(gè)范圍內(nèi)光功率密度比LED光源約大3個(gè)數(shù)量級(jí)（可參考圖一），因此CWDM的隔離度指標(biāo)可測到50dB以上。

缺點(diǎn)：在1470~1520波段的光較弱，但它仍然有一些光，其光功率密度與LED光源相當(dāng)，隔離度指標(biāo)能測到20~30dB左右，當(dāng)然也可用高靈敏度的掃描方式提高測試隔離度。

注：以上介紹的是CWDM模塊的測量方法，對(duì)于CWDM薄膜濾光片和CWDM光纖耦合器等器件也可用類似的測量方法，應(yīng)該還更簡單。